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扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopes）

参数: 技术指标 PHILIPS XL30扫描电子显微镜及EDAX DX－4能量色散谱仪（Specification）可同于固体物质的表面形貌观察和微区（～1μn）元素（B5～U92）定性、定量分析的一体化仪器 仪器基本参数： 1.二次电子分辨率：3.5nm 2.放大倍数：×10～×100000 3.能谱分辨率：138Kev 4.加速电压：1～35kv 应用范围 断口二次电子图像立体感强，放大倍数连续可调，分辨率高可直接进行断口分析其断裂性质及研究。 在冶金及材料科学领域可进行夹杂物，相分析，第二相组成及分析。 微小固体物质分析。刑侦残片分析μm及尺寸测量，（如：涂层、渗层微小颗粒等） 本仪器配备有经验丰富的资深研究人员。在金属材料，非金属、陶瓷材料，复合材料等领域进行失效分析，组织鉴别，表面形貌，腐蚀研究磨损研究中颇有建树。